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Preise: Tan, Cher Ming


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  • Angebot von 30-07-2024

    148.88€

    Cher Ming Tan Electromigration In Ulsi Interconnections (gebundene

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    - Marke: --- - - Expedition: 0.00 - Cher Ming Tan Electromigration In Ulsi Interconnections (gebundene Ausgabe)...siehe Rest im Laden.
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  • Angebot von 30-07-2024

    88.95€

    Elektromigrationsmodellierung Auf Schaltungslayout ebene Von Cher Ming Tan

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    - Marke: --- - - Expedition: 17.21 - Elektromigrationsmodellierung Auf Schaltungslayout-ebene Von Cher Ming Tan (englisch) Pap...siehe Rest im Laden.
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  • Angebot von 30-07-2024

    104.14€

    - Tan, Cher Ming - -

    - Marke: Tan, Cher Ming - - - Expedition: 0 - Brand : Springer, Binding : Taschenbuch, Edition : 2011, Label : Springer, Publisher : Springer, Format : Illustriert, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 160, publicationDate : 2013-04-21, releaseDate : 2013-04-21, authors : Tan, Cher Ming, ISBN : 1447126416...siehe Rest im Laden.
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    - Tan, Cher Ming - -

    - Marke: Tan, Cher Ming - - - Expedition: 0 - Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2011, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 152, publicationDate : 2011-03-07, authors : Tan, Cher Ming, Li Wei, Zhenghao Gan, Yuejin Hou, languages : english, ISBN : 0857293095...siehe Rest im Laden.
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    - Marke: Tan, Cher Ming - - - Expedition: 0 - Brand : Springer, Binding : Taschenbuch, Edition : 2011, Label : Springer, Publisher : Springer, Format : Illustriert, medium : Taschenbuch, numberOfPages : 160, publicationDate : 2013-04-21, releaseDate : 2013-04-21, authors : Tan, Cher Ming, ISBN : 1447126416...siehe Rest im Laden.
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    - Marke: Tan, Cher Ming - - - Expedition: 0 - Binding : Gebundene Ausgabe, Edition : 2011, Label : Springer, Publisher : Springer, PackageQuantity : 1, medium : Gebundene Ausgabe, numberOfPages : 152, publicationDate : 2011-03-07, authors : Tan, Cher Ming, Li Wei, Zhenghao Gan, Yuejin Hou, languages : english, ISBN : 0857293095...siehe Rest im Laden.
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    Applications Of Finite Element Methods For Reliability Studies

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    - Marke: --- - - Expedition: 0.00 - Applications Of Finite Element Methods For Reliability Studies On Ulsi......siehe Rest im Laden.
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  • Angebot von 30-07-2024

    49.95€

    Ching Sing Chai (u. A.) | Future Learning

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    - Marke: --- - - Expedition: 2.95 - Ching Sing Chai (u. A.) | Future Learning In Primary Schools | Taschenbuch | Vi...siehe Rest im Laden.
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    51.90€

    Future Learning In Primary Schools A Singapore Perspective

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    - Marke: --- - - Expedition: 0.00 - Future Learning In Primary Schools A Singapore Perspective Chai (u. A.) Buch Vi...siehe Rest im Laden.
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    51.95€

    Electromigration Modeling At Circuit Layout Level | Feifei

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    - Marke: --- - - Expedition: 0.00 - Electromigration Modeling At Circuit Layout Level | Feifei He (u. A.) | Buch...siehe Rest im Laden.
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